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X射線晶體分析儀
時間：2017-12-27型號：廠商性質：生產廠家瀏覽量：1221

X射線晶體分析儀用於研究物質內部微觀結構，如：單晶定向，檢測缺陷，物質定性，測定點陣參數，測定殘餘應力等
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