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X射線晶體分析儀用於研究物質內部微觀結構,如:單晶定向,檢測缺陷,物質定性,測定點陣參數,測定殘餘應力等
X射線衍射儀是為材料研究和工業產品分析設計的,是常規分析與特殊目的測量相結合的完善產品。
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